[发明专利]一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质

说明书

本发明提供了电芯DCI R测试技术领域的一种电芯DCI R测试方法、系统、设备及介质，方法包括如下步骤：步骤S10、上位机配置DC I R测试工步，并将所述DCI R测试工步发送给中位机；步骤S20、中位机解析接收的所述DC I R测试工步，得到测试参数并发送给下位机；步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换；步骤S40、中位机基于所述DCI R测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DC I R值。本发明的优点在于：极大的提升了DCI R测试精度。

技术领域

本发明涉及电芯DCIR测试技术领域，特别指一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质。

背景技术

电芯在生产完成之后，需要对电芯进行一系列的测试，以保障电芯的性能以及安全性，其中便包括DCIR(Direct Current Internal Resistance)测试，即直流内阻测试。在包含上位机、中位机和下位机的三层电芯测试系统中，下位机根据中位机发送的测试参数执行充放电，中位机从下位机采集电芯的充放电数据，中位机根据充放电数据以及预设的截止条件进行决策判断，决定下位机是否跳转到下一个工步，即工步的切换由中位机进行控制。

在DCIR测试过程中，由中位机控制工步的切换，从中位机发送切换指令到下位机执行切换成功之间存在时间差，进而影响DCIR测试的精度。

因此，如何提供一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质，实现提升DCIR测试精度，成为一个亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题，在于提供一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质，实现提升DCIR测试精度。

第一方面，本发明提供了一种电芯DCIR测试方法，包括如下步骤：

步骤S10、上位机配置DCIR测试工步，并将所述DCIR测试工步发送给中位机；

步骤S20、中位机解析接收的所述DCIR测试工步，得到测试参数并发送给下位机；

步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换；

步骤S40、中位机基于所述DCIR测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值。

进一步地，所述步骤S10中，所述DCIR测试工步包括第一工步和第二工步；所述第一工步执行完成之后执行第二工步；

所述第一工步具体为：以电流I₁控制电芯进行时长为T_r1的充放电，并在时长为T_c1时进行采样；所述T_r1大于T_c1；

所述第二工步具体为：以电流I₂控制电芯进行时长为T_r2的充放电，并在时长为T_c2时进行采样；所述T_r2大于T_c2。

进一步地，所述步骤S20中，所述测试参数包括I₁、T_r1、I₂、T_r2以及对应的工步。

进一步地，所述步骤S40具体为：

中位机基于所述DCIR测试工步，在时长为T_c1时从下位机采集包括电压V_c1和电流I_c1的充放电数据，在时长为T_c2时从下位机采集包括电压V_c2和电流I_c2的充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值：