[发明专利]芯片硅通孔封装结构的制作方法及封装结构在审
申请号: | 202211405373.8 | 申请日: | 2022-11-10 |
公开(公告)号: | CN115810580A | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 张旦;夏华栋;李瀚宇;林焱 | 申请(专利权)人: | 苏州晶方半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/48 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种芯片硅通孔封装结构的制作方法及封装结构,制作方法包括:提供芯片,芯片具有相对设置的第一表面和第二表面,第一表面上设置有焊垫;在芯片的第二表面形成通孔,通孔暴露出焊垫;在通孔的底壁、侧壁以及芯片的第二表面上形成绝缘层;在绝缘层的表面形成保护层,保护层包括:于通孔的开口处形成向通孔中轴线方向延伸的凸起结构;刻蚀保护层以及通孔内的绝缘层,暴露出焊垫;在通孔内以及绝缘层的表面形成电连接焊垫的金属层。本发明的芯片硅通孔封装结构的制作方法,能够在硅通孔内底部绝缘层上刻蚀形成内倒角,使得刻蚀后的绝缘层与外接线路层连接的结构更稳固。 | ||
搜索关键词: | 芯片 硅通孔 封装 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造