[发明专利]使用时钟门控方案的测试电路和包括其的集成电路在审
| 申请号： | 202211389454.3 | 申请日： | 2022-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN116125247A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 南基河;任祥淳 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;李竞飞 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了用于测试集成电路核心或该集成电路核心的外部电路的测试电路，以及集成电路。测试电路不仅可以在旁路模式中仅使用一个多路复用器将单元功能输入发送到单元功能输出，而且可以使用能够阻止时钟信号被发送到扫描触发器的时钟门控方案来保持捕获过程。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 时钟 门控 方案 测试 电路 包括 集成电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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