[发明专利]一种工艺质量分析方法、装置及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211345859.7 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN115689115A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 杨帅;侯雨;银波;宋玲玲;朱晓明;甘新业;高静;候春霞;王新月 申请(专利权)人: 新特能源股份有限公司;新疆新特晶体硅高科技有限公司
主分类号: G06Q10/063 分类号: G06Q10/063;G06Q50/04
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英
地址: 831500 新疆维吾尔自治区乌鲁木*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 发明提供了一种工艺质量分析方法、装置及可读存储介质,涉及工艺质量管控技术领域。所述工艺质量分析方法包括:获取多晶硅生产工序中的至少一个工艺参数的运行数据;对所述运行数据进行筛选,获得筛选后的运行数据;根据筛选后的运行数据,对所述多晶硅生产工序进行工艺质量分析,得到工艺质量分析结果;其中,所述工艺质量分析为以下至少一项:过程能力分析;方差分析;试验设计分析;可靠性分析;多变量分析。本发明的方案能够对多晶硅生产工序中的工艺参数进行分析,从而为多晶硅的质量提升奠定基础。
搜索关键词: 一种 工艺 质量 分析 方法 装置 可读 存储 介质
【主权项】:
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