[发明专利]一种电路单元特征化数据的获取方法在审
| 申请号： | 202211274552.2 | 申请日： | 2022-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN115659881A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;张学连 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F30/327 | 分类号： | G06F30/327 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴磊 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种电路单元特征化数据的获取方法，包括：获取电路单元的目标状态数据；根据所述目标状态数据以及所述电路单元对应的特征化模型确定出所述电路单元的目标特征化数据，所述特征化模型是根据所述电路单元的历史状态数据以及所述历史状态数据对应的历史特征化数据训练得到的。可见，本申请能够通过预先构建的电路单元的特征化模型，可以直接基于目标状态数据和特征化模型确定出所需的电路单元的特征化数据，无需从电路单元库中的庞大数据中寻找所需的电路单元的特征化数据，并且能够获取电路单元库中未存储的特征化数据，从而实现快速获取所需的电路单元的特征化数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 单元 特征 数据 获取 方法 | ||
【主权项】：
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