[发明专利]一种电路单元特征化数据的获取方法在审
| 申请号: | 202211274552.2 | 申请日: | 2022-10-18 |
| 公开(公告)号: | CN115659881A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
| 发明(设计)人: | 吴玉平;张学连 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | G06F30/327 | 分类号: | G06F30/327 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 吴磊 |
| 地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电路 单元 特征 数据 获取 方法 | ||
1.一种电路单元特征化数据的获取方法,其特征在于,包括:
获取电路单元的目标状态数据;
根据所述目标状态数据以及所述电路单元对应的特征化模型确定出所述电路单元的目标特征化数据,所述特征化模型是根据所述电路单元的历史状态数据以及所述历史状态数据对应的历史特征化数据训练得到的。
2.根据权利要求1所述的获取方法,其特征在于,在所述获取电路单元的目标状态数据之前,所述方法还包括:
获取所述电路单元的历史状态数据;
根据预设的筛选规则从所述历史状态数据中确定训练状态数据;
根据所述训练状态数据对所述电路单元进行仿真,得到所述训练状态数据对应的训练特征化数据;
基于所述训练状态数据和所述训练特征化数据训练得到所述电路单元对应的特征化模型。
3.根据权利要求2所述的获取方法,其特征在于,在所述基于所述训练状态数据和所述训练特征化数据训练得到所述电路单元对应的特征化模型之后,所述方法还包括:
根据所述特征化模型和验证状态数据确定所述验证状态数据的特征化数据,所述验证状态数据为所述历史状态数据中除所述训练状态数据以外的数据;
判断所述验证状态数据的特征化数据与验证特征化数据的误差是否小于预设值,所述验证特征化数据为根据所述验证状态数据对所述电路单元进行仿真得到的;
若否,修改所述筛选规则,并重新执行根据预设的筛选规则从所述历史状态数据中确定训练状态数据的步骤。
4.根据权利要求1所述的获取方法,其特征在于,所述获取电路单元的目标状态数据,包括:
获取所述电路单元的实际状态数据;
根据所述实际状态数据和预设的浮动率确定所述电路单元的目标状态数据。
5.一种电路单元特征化数据的获取装置,其特征在于,包括:
第一获取单元,用于获取电路单元的目标状态数据;
第一确定单元,用于根据所述目标状态数据以及所述电路单元对应的特征化模型确定出所述电路单元的目标特征化数据,所述特征化模型是根据所述电路单元的历史状态数据以及所述历史状态数据对应的历史特征化数据训练得到的。
6.根据权利要求5所述的获取装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二获取单元,用于获取所述电路单元的历史状态数据;
第二确定单元,用于根据预设的筛选规则从所述历史状态数据中确定训练状态数据;
仿真单元,用于根据所述待训练状态数据对所述电路单元进行仿真,得到所述训练状态数据对应的训练特征化数据;
训练单元,用于基于所述训练状态数据和所述训练特征化数据训练得到所述电路单元对应的特征化模型。
7.根据权利要求6所述的获取装置,其特征在于,所述装置还包括:
第三确定单元,用于根据所述特征化模型和验证状态数据确定所述验证状态数据的特征化数据,所述验证状态数据为所述历史状态数据中除所述训练状态数据以外的数据;
判断单元,用于判断所述验证状态数据的特征化数据与验证特征化数据的误差是否小于预设值,所述验证特征化数据为根据所述验证状态数据对所述电路单元进行仿真得到的;
修改单元,用于若否,修改所述筛选规则,并重新执行根据预设的筛选规则从所述历史状态数据中确定训练状态数据的步骤。
8.根据权利要求5所述的获取装置,其特征在于,所述第一获取单元包括:
第一获取子单元,用于获取所述电路单元的实际状态数据;
第一确定子单元,用于根据所述实际状态数据和预设的浮动率确定所述电路单元的目标状态数据。
9.一种计算机设备,其特征在于,包括:存储器、处理器以及总线系统;
其中,所述存储器用于存储程序;
所述处理器用于执行所述存储器中的程序,以实现权利要求1至4中任一项所述的方法;
所述总线系统用于连接所述存储器以及所述处理器,以使所述存储器以及所述处理器进行通信。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行如权利要求1至4中任一项所述的方法。
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