[发明专利]一种电路单元特征化数据的获取方法

说明书

本申请公开了一种电路单元特征化数据的获取方法，包括：获取电路单元的目标状态数据；根据所述目标状态数据以及所述电路单元对应的特征化模型确定出所述电路单元的目标特征化数据，所述特征化模型是根据所述电路单元的历史状态数据以及所述历史状态数据对应的历史特征化数据训练得到的。可见，本申请能够通过预先构建的电路单元的特征化模型，可以直接基于目标状态数据和特征化模型确定出所需的电路单元的特征化数据，无需从电路单元库中的庞大数据中寻找所需的电路单元的特征化数据，并且能够获取电路单元库中未存储的特征化数据，从而实现快速获取所需的电路单元的特征化数据。

技术领域

本申请涉及电路分析领域，更具体地说，涉及一种电路单元特征化数据的获取方法，更确切的说，涉及一种电路单元特征化数据的获取方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

表征电路单元的特征化数据是支撑集成电路设计的基础数据之一，用于对基于电路单元设计的集成电路进行时序分析、功耗分析等。现有的电路单元的特征化数据是按工作电压点、工作温度点、负载值点等离散存储的。例如，在工作电压的取点上，对单一工作电压值情况，一般取三个离散点，工作电压值点、工作电压值上下偏离±10％的两个点；对于工作电压可变的电路，存在两种情形，一是取多个离散的固定工作电压值V，即有限数量工作电压值点，特征化时电压值取点数为3*V，二是工作电压在一定范围内连续变化，即无限数量工作电压值点，现有电路单元特征化数据尚不能覆盖这种情况，只能以取多个离散的固定工作电压值表示，这种离散点表征工作电压连续变化的电路的特征是由遗漏的，也是不准确的。另外，在工作温度上，一般会取包括室温(25摄氏度)在内的若干个温度点T，为了准确表征电路单元的温度特性，对温度的取值会更为密集；在负载取值上一般会取若干个负载值L。因此，现有表征电路单元特征化的数据取点数为3*V*T*L。

然而，在工业界，一个完整的电路单元库有数百至数千个电路单元，这使得电路单元库中表征电路单元的特征化数据规模很大且覆盖有限而不准确，导致现有技术中无法快速获取所需的电路单元的特征化数据，并且当所需的特征化数据对应的工作电压点、工作温度点、负载值点为未取值点时，也即所需的特征化数据未被存储时，无法从电路单元库中获取到所需的特征化数据。

发明内容

本申请实施例提供了一种电路单元特征化数据的获取方法、装置、设备及可读存储介质，能够实现快速获取所需的电路单元的特征化数据。

有鉴于此，本申请实施例提供了一种电路单元特征化数据的获取方法，包括：

获取电路单元的目标状态数据；

根据所述目标状态数据以及所述电路单元对应的特征化模型确定出所述电路单元的目标特征化数据，所述特征化模型是根据所述电路单元的历史状态数据以及所述历史状态数据对应的历史特征化数据训练得到的。

可选地，在所述获取电路单元的目标状态数据之前，所述方法还包括：

获取所述电路单元的历史状态数据；

根据预设的筛选规则从所述历史状态数据中确定训练状态数据；

根据所述待训练状态数据对所述电路单元进行仿真，得到所述训练状态数据对应的训练特征化数据；

基于所述训练状态数据和所述训练特征化数据训练得到所述电路单元对应的特征化模型。

可选地，在所述基于所述训练状态数据和所述训练特征化数据训练得到所述电路单元对应的特征化模型之后，所述方法还包括：

根据所述特征化模型和验证状态数据确定所述验证状态数据的特征化数据，所述验证状态数据为所述历史状态数据中除所述训练状态数据以外的数据；

判断所述验证状态数据的特征化数据与验证特征化数据的误差是否小于预设值，所述验证特征化数据为根据所述验证状态数据对所述电路单元进行仿真得到的；