[发明专利]一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 202211258956.2 申请日: 2022-10-14
公开(公告)号: CN115542019A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 吴亚飞;宋晓炫;游青;王洪斌;牛中乾;何宗锐;杨海宁;李廷军;赵明华;王成;张波;樊勇;程钰间 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 苏州德萃知识产权代理有限公司 32629 代理人: 刘康宁
地址: 611730 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法,包括金属地板、金属垫片、待测基片、周期性电磁带隙结构和标准波导结构,测试结构的标准波导结构从下往上依次为标准法兰、标准波导,周期性电磁带隙结构包含两个矩形耦合孔和周期性矩形金属柱;本发明的馈电通过标准波导通过耦合孔耦合;本发明通过间隙波导形成的谐振腔对以封装材料为代表的薄膜或薄片形介质的介电常数进行测试,相对于传统的测试方法,本方法的介质基片加工简单、不需打孔且测试精度较高。
搜索关键词: 一种 宽带 无过 孔可复用 介电常数 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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