[发明专利]一种晶片圆心校正方法在审
| 申请号： | 202211243781.8 | 申请日： | 2022-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN115311281A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 郑传凤 | 申请（专利权）人： | 南通迪博西电子有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/73;G06T5/00 |
| 代理公司： | 广州海藻专利代理事务所(普通合伙) 44386 | 代理人： | 郑凤姣 |
| 地址： | 226000 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种晶片圆心校正方法，属于图像数据识别技术领域，该方法步骤包括：获取待测晶片图像中多段圆弧边缘；根据每段圆弧边缘中每个边缘像素点的邻域链码，选取出部分误差像素点；利用每个部分误差像素点所在圆弧边缘的误差程度、所在圆弧边缘的前进角度值以及每个部分误差像素点出现误差位置概率，计算出每个部分误差像素点的误差程度，选取出误差程度小于误差程度阈值的部分误差像素点组成目标像素点集合，对目标像素点集合进行霍夫圆检测得到晶片圆心；本发明筛选出低误差程度的像素点进行霍夫圆检测，在减少冗余计算的同时提高了霍夫圆检测的准确性，并能准确的获取晶片圆心位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶片 圆心 校正 方法 | ||
【主权项】：
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