[发明专利]传感器外参校准方法和装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211240332.8 | 申请日： | 2022-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN115546314A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 纪大胜;刘世林;杜霖 | 申请（专利权）人： | 杜霖 |
| 主分类号： | G06T7/80 | 分类号： | G06T7/80;G06F17/16 |
| 代理公司： | 北京市鼎立东审知识产权代理有限公司 11751 | 代理人： | 朱慧娟;刘爽 |
| 地址： | 100020 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种传感器外参校准方法和装置，其中方法包括：获取所选取的预设个数的特征点，并提取得到各特征点在图像数据中的像素坐标和在点云数据中的点云坐标；将各特征点的点云坐标进行转换，得到各特征点在图像数据中的投影坐标；基于各特征点的像素坐标和投影坐标，计算得到外参矩阵结果。由此在进行传感器外参校准时，不需要借助其他道具，并且也不需要配置有摄像头和雷达传感器的采集设备进行现场采集，直接利用摄像头传感器和雷达传感器所采集到同一帧数据即可实现，这就使得传感器外参校准不再受限于第三方工具和采集设备的限制，可以随时随地进行校准，最终大大提高了传感器外参校准的适用性和灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 参校 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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