[发明专利]芯片分析方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202211140653.0 | 申请日： | 2022-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN115219884B | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 樊强 | 申请（专利权）人： | 北京象帝先计算技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人： | 王俊博;徐雪峤 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳区安定*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种芯片分析方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提升芯片分析效率。其中，芯片分析方法包括：获得芯片的失效定位结果和DFM模型针对芯片生成的薄弱分析结果，失效定位结果包括可疑失效层和每个可疑失效层中的可疑失效位置，薄弱分析结果包括薄弱层和每个薄弱层中的薄弱位置；针对指向同一层芯片结构的可疑失效层和薄弱层，进行可疑失效位置和薄弱位置的比较，并根据可疑失效位置和薄弱位置的重叠情况，从可疑失效位置中确定候选失效位置。本公开中，通过结合失效定位结果和薄弱分析结果，对可疑失效位置进行筛选，可以准确缩小可疑失效位置的范围，有利于减少后续分析流程的分析量，提升分析效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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