[发明专利]服务质量测试方法、装置以及芯片设备、存储介质有效
申请号: | 202211113788.8 | 申请日: | 2022-09-14 |
公开(公告)号: | CN115208808B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 刘小群;池颖英;谢勇;贾晓光;周晓露;张继光;王连忠;崔文朋;郑哲;刘瑞 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司 |
主分类号: | H04L43/55 | 分类号: | H04L43/55;H04L43/0852;H04L43/087;H04L43/0888;H04L43/0829;H04L43/08 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 赵静 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种服务质量测试方法、装置以及芯片设备、存储介质,涉及通信技术领域,该方法应用于测试接收端,该方法包括:接收测试发起端发送的测试报文,其中,测试报文模仿业务报文生成,且测试报文携带有测试发起端中的TSN芯片添加的第一时刻信息和第一统计信息;利用测试接收端中的TSN芯片给测试报文添加第二时刻信息和第二统计信息;根据第一时刻信息、第一统计信息、第二时刻信息和第二统计信息,得到时间敏感网络的服务质量指标,其中,服务质量指标包括时延、抖动率、吞吐量、丢包率和可用性中的至少一者。以此方式,能够实现更快速、全面地对时间敏感网络服务质量的测试。 | ||
搜索关键词: | 服务质量 测试 方法 装置 以及 芯片 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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