[发明专利]存储芯片测试架及存储芯片测试系统在审
| 申请号： | 202211100305.0 | 申请日： | 2022-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN116302723A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 王欣 | 申请（专利权）人： | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273;G06F11/32;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳卓正专利代理事务所(普通合伙) 44388 | 代理人： | 万正平;吴思莹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种存储芯片测试架，包括：存储芯片测试座、主控模块、协议转换模块、周边电路、分路电源模块、总电源、电流检测模块和MCU。存储芯片测试座用于安装存储芯片；主控模块连接至存储芯片测试座，并通过协议转换模块连接至测试电脑；分路电源模块连接至主控模块和存储芯片测试座；分路电源模块将总电源输出的电源转换为分路电源提供给存储芯片测试座；电流检测模块连接在总电源与分路电源模块之间，电流检测模块检测分路电源模块的电流并输出电流检测信号；MCU根据电流检测信号与预设阈值输出电源断开信号以控制分路电源模块关闭电源输出。本发明可以降低对测试座的损坏，提升存储芯片测试架的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市德明利技术股份有限公司，未经深圳市德明利技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211100305.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
