[发明专利]存储芯片测试架及存储芯片测试系统

权利要求书

1.一种存储芯片测试架，其用于连接至测试电脑以测试存储芯片，其特征在于，包括：

存储芯片测试座，用于安装所述存储芯片以将所述存储芯片电连接至所述存储芯片测试架；

主控模块，连接至所述存储芯片测试座；

协议转换模块，所述主控模块通过所述协议转换模块连接至所述测试电脑；

周边电路，连接至所述主控模块和所述存储芯片测试座；

分路电源模块，连接至所述主控模块和所述存储芯片测试座；

总电源，连接至所述协议转换模块和所述分路电源模块，所述分路电源模块将所述总电源输出的电源转换为分路电源提供给所述主控模块和所述存储芯片测试座；

电流检测模块，连接在所述总电源与所述分路电源模块之间，所述电流检测模块检测分路电源模块的电流并输出电流检测信号；和

MCU，连接至所述电流检测模块和所述分路电源模块，所述MCU接收所述电流检测信号，并根据所述电流检测信号与预设阈值输出电源断开信号，所述分路电源模块根据所述电源断开信号关闭电源输出。

2.如权利要求1所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述存储芯片测试架还包括报警输出模块，所述报警输出模块连接至所述MCU，所述MCU根据所述电流检测信号与所述预设阈值输出报警控制信号，所述报警输出模块根据所述报警控制信号输出报警呈现信号。

3.如权利要求2所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述报警输出模块包括LED灯、蜂鸣器和/或显示器。

4.如权利要求2所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述MCU将所述报警控制信号输出至所述测试电脑。

5.如权利要求1所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述分路电源模块包括DC-DC转换器，所述MCU通过将所述电源断开信号输出至所述DC-DC转换器的使能脚以关闭所述分路电源模块的电源输出。

6.如权利要求1所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述存储芯片是BGA封装闪存芯片，所述存储芯片测试座是BGA测试座。

7.如权利要求6所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述BGA测试座兼容多种型号的BGA封装存储芯片。

8.如权利要求1所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述预设阈值包括第一阈值和第二阈值，当所述电流检测信号达到或超过第一阈值，并且所述电流检测信号达到或超过所述第一阈值的持续时间超过所述第二阈值时，所述MCU输出所述电源断开信号。

9.如权利要求1所述的存储芯片测试架，其特征在于，所述协议转换模块包括SATA转USB转换模块，所述主控模块为SATA主控模块。

10.一种存储芯片测试系统，其特征在于，包括：根据权利要求1-9任意一项所述的存储芯片测试架；

测试电脑，连接至所述存储芯片测试架。