[发明专利]一种温度传感器测试系统在审
申请号: | 202211074805.1 | 申请日: | 2022-09-02 |
公开(公告)号: | CN115420404A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 黄立朝;袁振中;章宇新;王星红;孔祥艺;臧凯旋 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种温度传感器测试系统,属于集成电路测试领域,包括高低温试验箱、芯片夹持装置、信号采集装置和计算机;所述高低温试验箱提供从‑55摄氏度至150摄氏度的温度变化环境;所述芯片夹持装置用于夹持待测芯片,并放置在所述高低温试验箱中,所述芯片夹持装置通过信号采集装置将温度数据传输至所述计算机。通过本发明,在实验室实现有效地测试温度传感器,并且制作简单,成本低廉,节省测试时间,对于研究温度传感器具有重要意义,能够方便的用于科研和生产,为具有自主知识产权的温度传感器走向市场提供的重要的技术保障。 | ||
搜索关键词: | 一种 温度传感器 测试 系统 | ||
【主权项】:
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