[发明专利]一种温度传感器测试系统在审
申请号: | 202211074805.1 | 申请日: | 2022-09-02 |
公开(公告)号: | CN115420404A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 黄立朝;袁振中;章宇新;王星红;孔祥艺;臧凯旋 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度传感器 测试 系统 | ||
1.一种温度传感器测试系统,其特征在于,包括高低温试验箱、芯片夹持装置、信号采集装置和计算机;
所述高低温试验箱提供从-55摄氏度至150摄氏度的温度变化环境;
所述芯片夹持装置用于夹持待测芯片,并放置在所述高低温试验箱中,所述芯片夹持装置通过信号采集装置将温度数据传输至所述计算机。
2.如权利要求1所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述芯片夹持装置包括测试电路板、测试座、探针和顶板,所述测试电路板上固定连接有四个螺栓,
所述顶板上开设有与四个螺栓对应的通孔,四个通孔套在四个螺栓上,每个螺栓上并拧有螺母;
所述探针固定在所述顶板朝向测试电路板的一侧;
所述测试座固定放置所述测试电路板上,用于放置待测芯片。
3.如权利要求2所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述四个螺栓上均套有弹簧,并且所述弹簧位于所述测试电路板和所述顶板之间。
4.如权利要求2所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述测试座上固定连接有铂电阻。
5.如权利要求4所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述铂电阻的阻值测温精度为±0.01℃。
6.如权利要求1所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述信号采集装置包括信号引出线和驱动电路板;所述信号引出线用于传输温度数据,所述驱动电路板采集并显示所述信号引出线传输的温度数据。
7.如权利要求6所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述信号引出线采用铜导线。
8.如权利要求1所述的温度传感器测试系统,其特征在于,所述高低温试验箱中芯片夹持装置的数量不少于1个。
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