[发明专利]深度测量方法、设备、电路、介质和程序产品在审
| 申请号： | 202211040677.9 | 申请日： | 2022-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN115272046A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 蔡海蛟;冯歆鹏;周骥 | 申请（专利权）人： | 上海肇观电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T1/00 | 分类号： | G06T1/00;G06T7/40;G06T7/514;G06V10/74 |
| 代理公司： | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人： | 魏小薇;吴丽丽 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区自*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 提供一种深度测量的方法、设备、电路、介质和程序产品。该方法包括：基于摄像机的目标拍摄分辨率，确定将被投射到待测量对象上的目标散斑密度；基于目标散斑密度，打开投射器所包括的多个光源中的至少一部分光源来向待测量对象投射目标散斑；利用摄像机拍摄得到带有目标散斑的待测量对象的检测图像；以及基于检测图像，确定待测量对象的深度信息。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 测量方法 设备 电路 介质 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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