[发明专利]一种测量超稳光学参考腔高精细度的方法及装置在审
申请号: | 202211026837.4 | 申请日: | 2022-08-25 |
公开(公告)号: | CN115436021A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 张善超;林芳州;王嘉璇;黄威龙 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙) 44326 | 代理人: | 潘素云 |
地址: | 510000 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量超稳光学参考腔高精细度的方法及装置,模式匹配透镜组使激光与腔模达到空间模式匹配,从而极大地提高了超稳光学参考腔的输出信号振幅;打开激光器的频率扫描模块,在超稳光学参考腔共振频率附近缓慢扫描激光频率,直至通过相机监测到超稳光学参考腔透射端的共振模式信号;由于腔内介质或者腔镜的吸收、散射带来损耗,每一次反射都会有一定比例的光透射出腔外,这部分透射光构成了腔的衰荡信号;通过拟合得到光腔衰荡时间,多次测量取平均值,进而通过公式计算获得超稳光学参考腔的高精细度和线宽。本发明无需腔长调制及稳频技术就可以测量超稳光学参考腔的高精细度,简单、快捷,便于快速测量超稳光学参考腔的高精细度。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 光学 参考 精细 方法 装置 | ||
【主权项】:
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