[发明专利]电子管芯测试器件和方法在审
| 申请号： | 202210914411.6 | 申请日： | 2022-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN115701225A | 公开（公告）日： | 2023-02-07 |
| 发明（设计）人： | P·G·卡佩莱蒂;F·皮亚扎;A·雷达埃利 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（克洛尔2）公司;意法半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H10B63/10 | 分类号： | H10B63/10;H10N70/20 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 丁君军 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及电子管芯测试器件和方法。存储器单元包括具有半导体区和绝缘区的衬底。第一绝缘层在衬底上延伸。相变材料层位于第一绝缘层上。存储器单元还包括具有导电轨的互连网络。延伸穿过所述第一绝缘层的第一导电通孔的第一端与所述相变材料层接触，并且所述第一导电通孔的第二端与所述半导体区接触。延伸穿过第一绝缘层的第二导电通孔的第一端与相变材料层和导电轨两者接触，并且第二导电通孔的第二端仅与绝缘区接触。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 管芯 测试 器件 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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