[发明专利]一种利用扫描电化学显微镜（SECM）检测不可逆电穿孔程度的方法在审
| 申请号： | 202210871152.3 | 申请日： | 2022-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN115420911A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 蓝闽波;潘巨敏;赵红莉;高陈程 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01Q60/60 | 分类号： | G01Q60/60 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人： | 任艳霞 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用扫描电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法，其通过对脉冲电场刺激后的细胞的膜通透性(Pm)进行测定，实现细胞电穿孔程度的快速高效检测。该方法先测定出SECM探针对细胞的逼近曲线，再将逼近曲线换算成细胞膜通透性来完成对电穿孔程度的测定，并通过已有的检测方法测定细胞的存活率曲线，将Pm值与细胞存活率建立关系，来验证细胞膜通透性能完成不可逆电穿孔的检测，发现细胞膜通透性随脉冲电压变化的规律与细胞存活率在脉冲电压变化时的规律几乎一致，因此利用SECM测定细胞的电穿孔程度的方法是有效可靠的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 扫描 电化学 显微镜 secm 检测 可逆 穿孔 程度 方法 | ||
【主权项】：
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