[发明专利]一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法在审
| 申请号： | 202210856259.0 | 申请日： | 2022-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN115239786A | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 沈颉飞;陈度;巢家瑞;王振宇;何林峰 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G06T7/60 | 分类号： | G06T7/60;G06T17/30 |
| 代理公司： | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 宋辉 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法，包括以下步骤：获取目标上前牙CBCT影像；选取上前牙的牙面型值点，获取各型值点坐标；根据型值点坐标求取NURBS曲面控制点，通过控制点生成NURBS曲面；将NURBS曲面离散化，生成牙釉质任意点的厚度信息。自动生成上前牙牙釉质厚度，极大地提高了对牙釉质厚度测量的效率。该方法对牙齿无创，且具有较小可控的误差。该算法结合牙齿的微观结构能够帮助更深入地研究牙齿的力学及光学特性，为研究口腔上前牙内部结构，牙齿的多尺度建模及光学或力学分析提供便利。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 上前 牙牙面 任意 釉质 厚度 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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