[发明专利]模型训练及缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202210827110.X | 申请日： | 2022-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN115205253A | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 邵庆彬;杨凯;崔磊 | 申请（专利权）人： | 上海商汤智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 李江;浦彩华 |
| 地址： | 200233 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种模型训练及缺陷识别方法、装置、电子设备和存储介质，模型训练方法包括：利用已标注样本集对待训练缺陷识别模型进行训练，得到初始缺陷识别模型；利用初始缺陷识别模型，对未标注样本集中的未标注样本进行不确定度评估，选取出k个未标注样本；k为大于等于1的自然数；k个未标注样本中每个未标注样本对应的不确定度，大于未标注样本集中与k个未标注样本不同的每个未标注样本对应的不确定度；对k个未标注样本进行工业缺陷标注，得到k个已标注样本；利用k个已标注样本和已标注样本集，对初始缺陷识别模型进行训练，得到已训练缺陷识别模型。 | ||
| 搜索关键词： | 模型 训练 缺陷 识别 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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