[发明专利]基于范德华外延制备二维非层状窄带隙半导体材料的方法在审

专利信息
申请号: 202210806705.7 申请日: 2022-07-08
公开(公告)号: CN115287625A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 何军;姜健;程瑞清;尹蕾;文耀 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/01;H01L31/032
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 李景
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及无机半导体纳米材料技术领域,特别涉及一种基于范德华外延制备二维非层状窄带隙半导体材料的方法。本申请提供的基于范德华外延制备二维非层状窄带隙半导体材料的方法包括:以范德华材料或带有范德华材料的硅片作为生长基底,采用气相沉积法利用反应原料制备得到二维非层状窄带隙半导体材料,所述反应原料选用Pb、Sn、S、Se、Te或含有对应元素的硫化物、硒化物、碲化物、氯化物中的一种或多种的混合。
搜索关键词: 基于 范德华 外延 制备 二维 层状 窄带 半导体材料 方法
【主权项】:
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