[发明专利]一种芯片外观检验后进行编带或摆盘的设备及其工作方法在审
| 申请号： | 202210783904.0 | 申请日： | 2022-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN115140364A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳市科睿达自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | B65B57/14 | 分类号： | B65B57/14;B65B15/04;B07C5/38;B07C5/342;B65B41/12 |
| 代理公司： | 深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862 | 代理人： | 陈科恒 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片外观检验后进行编带或摆盘的设备及其工作方法，所述设备包括下机架、上外罩、下板机机构、上板机机构、柔性上料装置、多个CCD定位和检测系统、龙门式取料机械手、不良品收纳装置、走带机构、封合机构、载带供料机构、载带收卷机构、萃盘皮带线移动机构和萃盘顶升机构。本发明采用柔性上料装置进行上料，第一CCD定位和检测系统进行定位IC芯片，第二CCD定位和检测系统检测IC芯片正面与正反方向，第三CCD定位和检测系统检测IC芯片底部外观，第四CCD定位和检测系统在封合前识别物料有无、和正面缺陷；二次定位后进行IC芯片编带或摆盘以及盘装IC芯片转编带一体机的多功能设备；本发明满足大批量高品质及多种封装IC芯片生产的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 外观 检验 进行 设备 及其 工作 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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