[发明专利]芯片验证方法、验证平台及存储介质在审
| 申请号： | 202210778055.X | 申请日： | 2022-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN116050316A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 朱述伟 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 王立娜;丁学爽 |
| 地址： | 300384 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种芯片验证方法、验证平台及存储介质，所述方法包括：构建从芯片环境，所述从芯片环境包括例化的第一广域功能连接模块、例化的第一端口物理层，以及，通信验证组件；其中，所述通信验证组件为所述第一广域功能连接模块提供启动引导程序的行为激励；基于所述从芯片环境，验证主芯片与所述从芯片的通信功能。所述芯片验证方法能够提高芯片的验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 平台 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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