[发明专利]芯片检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210769972.1 | 申请日： | 2022-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN114994513A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 金煜昊;李绍瑜;吕后阳 | 申请（专利权）人： | 浙江地芯引力科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 王卫丽 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市萧*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提出一种芯片检测方法、装置、设备及存储介质，该芯片检测方法，基于预设检测电路，预设检测电路包括依次连接的芯片接口、上拉电阻及电源接口，芯片接口用于接入待测芯片，且芯片接口和电源接口均连接单片机；方法包括：基于预设检测电路，获取待测芯片在至少一个影响参数的值发生变化过程中，不同参数值对应的接收命令回复数据的总时长；根据各参数值对应的总时长和相同条件下预设基准芯片的基准总时长，确定待测芯片是否满足预设基准芯片的性能参数。本申请能够大大提高区分检测的准确性，减少传统方法造成的误判和漏判现象。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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