[发明专利]一种纳秒级体负阻效应的微型半导体短路开关在审
申请号: | 202210660812.3 | 申请日: | 2022-06-13 |
公开(公告)号: | CN114914359A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 周浩楠;张良;李宋;张亚婷 | 申请(专利权)人: | 北京智芯传感科技有限公司 |
主分类号: | H01L47/00 | 分类号: | H01L47/00;H03K17/08 |
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摘要: | 本发明提供了一种纳秒级体负阻效应的微型半导体短路开关。所述短路开关包括:电场加载层、导通层、绝缘层、开关控制层、隔离层和衬底。所述导通层和电场加载层位于所述短路开关最顶层,起电气连接作用;下一层为所述绝缘层,为隔绝导通层与开关控制层的电气连接,保证所述开关的绝缘电阻;所述开关控制层与电场加载层的连接,在一定电场加载条件下,通过体负阻效应实现短路开关纳秒级由通到断的转变;所述隔离层介于所述开关控制层和基底之间,起电气隔离作用,同时能抑制衬底的脉冲电流干扰,增加安全性;所述衬底为短路开关图形化的支撑载体。本发明短路开关通过体负阻效应可以实现纳秒级的电路开关控制,且整体尺寸、质量微小。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳秒级体负阻 效应 微型 半导体 短路 开关 | ||
【主权项】:
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