[发明专利]一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置在审
| 申请号： | 202210649661.1 | 申请日： | 2022-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN115078868A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 胡世松;林曙亮;余亮 | 申请（专利权）人： | 杭州中安电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 杭州浙言专利代理事务所(普通合伙) 33370 | 代理人： | 易朝晖 |
| 地址： | 311123 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及可靠性测试技术，公开了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置；包括烘箱和表征器件；热学参数测试的方法包括：环境参数的采集，环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce；热学参数R1的获取，在固定条件下，通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系，从而获取热学参数R1；热学参数R2的获取，通过对表征器件加载高压，依据热学参数R1与漏电流Ir的关系，从而获取热学参数R2。本发明采用的测试方法进行表征器件的热学参数检测，其准确性高、成本低，效率快，同时能够在老化过程中，实时计算与判断热学参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化试验 器件 热学 参数 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州中安电子有限公司，未经杭州中安电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210649661.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种三相隔离互感器
- 下一篇：一种力学特性提升的多孔沥青混合料级配方法
