[发明专利]一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置在审
| 申请号: | 202210649661.1 | 申请日: | 2022-06-10 |
| 公开(公告)号: | CN115078868A | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
| 发明(设计)人: | 胡世松;林曙亮;余亮 | 申请(专利权)人: | 杭州中安电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 杭州浙言专利代理事务所(普通合伙) 33370 | 代理人: | 易朝晖 |
| 地址: | 311123 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 老化试验 器件 热学 参数 测试 方法 装置 | ||
本发明涉及可靠性测试技术,公开了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置;包括烘箱和表征器件;热学参数测试的方法包括:环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。本发明采用的测试方法进行表征器件的热学参数检测,其准确性高、成本低,效率快,同时能够在老化过程中,实时计算与判断热学参数。
技术领域
本发明涉及可靠性测试技术,尤其涉及了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置。
背景技术
在进行可靠性老化实验中,需要对表征器件的热学参数进行实时的监控;现有技术中针对热学参数的监控复杂,尤其是因为在可靠性老化试验中,如何准确获取器件的壳温是个难题,器件在烘箱内受到风场风速的影响会导致采集得到的壳温不准确,从而根据结壳热阻计算得到的结温也不准确。
发明内容
本发明针对现有技术中对于表征器件热学参数的检测,不能进行实时的监控,而且检测的壳温不准确的问题,提供了一种老化试验中器件热学参数的测试方法和装置。
为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:
一种老化试验中器件热学参数的测试方法,其包括烘箱和表征器件;热学参数测试的方法包括:
环境参数的采集,环境参数包括烘箱温度Ta和表征器件的温度敏感参数vce;
热学参数R1的获取,在固定条件下,通过热学参数R1与温度敏感参数vce的关系,从而获取热学参数R1;
热学参数R2的获取,通过对表征器件加载高压,依据热学参数R1与漏电流Ir的关系,从而获取热学参数R2。
作为优选,
步骤1:将表征器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta1;
步骤2:表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值;
步骤3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度,且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
步骤4:获取表征器件温度敏感参数vce1;
步骤5:对步骤4获取的温度点的实际温度Ta1及表征器件温度敏感参数vce1进行线性拟合,获得Ta1与vce1的关系,即Ta1=F(vce1);
步骤6:热学参数R1的获取,R1=Ta1=F(vce1)。
作为优选,热学参数R2包括结到环境热阻Rthj-a和结温参数Tj。
作为优选,对于结温参数Tj获取方法包括:
S1:将器件放置于烘箱内,采集烘箱温度Ta2;
S2:将表征器件通过n mA电流,其中n为任意数值电流值,同时对表征器件进行加载高压电压;
S3:按照梯度上升的方式设置烘箱温度Ta2;且使得每个温度设置后保持至少K分钟以使器件达到热稳定状态;
S4:采集每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2;
S5:对上述s4获取的每个温度点下的器件漏电流Ir2、器件电压V2以及器件敏感参数vce2进行计算,根据R1与vce2的关系计算得到结温参数Tj1,即Tj1=F(vce2);
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州中安电子有限公司,未经杭州中安电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210649661.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种三相隔离互感器
- 下一篇:一种力学特性提升的多孔沥青混合料级配方法





