[发明专利]用于电子元件的测试装置及测试方法和系统在审
| 申请号： | 202210649466.9 | 申请日： | 2022-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN114860530A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 苏州光宝科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京精金石知识产权代理有限公司 11470 | 代理人： | 姜艳华 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于电子元件的测试装置及测试方法和系统，该装置包括，承物组件，用于承接待测电子元件；中控单元，用于根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息；检测组件，与所述中控单元连接，用于根据所述测试指令信息调整检测组件的工作状态，并在对应的工作状态下获取测试结果；弹簧组件，用于支承承物组件并提供弹力；所述中控单元还用于根据所述测试结果判定所述待测电子元件是否合格。本发明利用光的反射的特性，将光点阵列检测盘作为检测装置，根据光线是否发生反射以及光线的反射时间，对电子元件的形状和重量进行检测，实现了电子元件规格的精确测试，提高了电子元件的规格测试的结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子元件 测试 装置 方法 系统 | ||
【主权项】：
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