[发明专利]用于电子元件的测试装置及测试方法和系统

权利要求书

1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括：

承物组件，用于承接待测电子元件；

中控单元，用于根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息；

检测组件，与所述中控单元连接，用于根据所述测试指令信息调整检测组件的工作状态，并在对应的工作状态下获取测试结果；

弹簧组件，包括若干组支承弹簧，各所述支承弹簧的一端连接于的所述承物组件的下方且各连接点在承物组件上均匀分布，另一端连接于检测组件的上方且各连接点在所述检测组件上均匀分布，所述弹簧组件用于支承承物组件并提供弹力；

所述中控单元还用于根据所述测试结果判定所述待测电子元件是否合格。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述检测组件包括光点阵列检测盘和检测盘固定支架，所述光点阵列检测盘的外沿由检测盘固定支架固定，用于接收测试指令信息和对待测电子元件的规格进行测试并获得测试结果，所述光点阵列检测盘包括由若干光点组成的光点阵列，所述光点阵列检测盘用于接收测试指令信息、发射光束、接收反射光束、检测光束的实时光反射周期和获得测试结果。

3.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述中控单元根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息时，所述标准规格包括标准形状和标准重量，所述测试指令信息包括重量测试指令或形状测试指令。

4.根据权利要求3所述的电子元件测试装置，其特征在于，当中控单元根据待测电子元件的种类设置标准形状、根据标准形状构建形状测试指令和发出形状测试指令时，光点阵列检测盘根据标准形状调整光点的亮灭状态，使对应标准形状内部的光点处于熄灭状态，对应标准形状外部的光点处于明亮状态，光点阵列检测盘根据接收反射光束的有无情况获得测试结果，中控单元根据测试结果判定待测电子元件的形状合格情况。

5.根据权利要求4所述的电子元件测试装置，其特征在于，当光点阵列检测盘根据接收反射光束的有无情况获得测试结果时，

当光点阵列检测盘未接收到反射光束，光点阵列检测盘获得待测电子元件的形状正常的测试结果，中控单元根据该测试结果判定待测电子元件的形状合格；

当光点阵列检测盘接收到反射光束，光点阵列检测盘获得待测电子元件的形状异常的测试结果，中控单元根据该测试结果判定待测电子元件的形状不合格。

6.根据权利要求5所述的电子元件测试装置，其特征在于，当中控单元根据待测电子元件的种类设置标准形状和标准重量、根据标准形状和标准重量构建重量测试指令和发出重量测试指令时，中控单元根据标准重量设置标准光反射周期T0，光点阵列检测盘根据标准形状调整光点的亮灭状态，使对应标准形状内部的光点处于明亮状态，对应标准形状外部的光点处于熄灭状态，光点阵列检测光束的实时光反射周期并将实时光反射周期T传输至中控单元，中控单元将实时光反射周期T和标准光反射周期T0进行比较并根据比较结果判定待测电子元件的重量合格情况,

当T≧T0时，中控单元判定待测电子元件的重量合格；

当TT0时，中控单元判定待测电子元件的重量超重。

7.一种应用权利要求1-6任一所述的电子元件测试装置的电子元件测试方式，其特征在于，包括：

将待测电子元件放置在承物组件上；

根据待测电子元件的种类，设置标准形状和标准重量，并根据标准形状和标准重量，构建并发出测试指令信息；

根据测试指令信息，对待测电子元件进行规格测试，获得测试结果；

根据测试结果，对待测电子元件的规格合格情况进行判定。