[发明专利]用于电子元件的测试装置及测试方法和系统

说明书

本发明涉及一种用于电子元件的测试装置及测试方法和系统，该装置包括，承物组件，用于承接待测电子元件；中控单元，用于根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息；检测组件，与所述中控单元连接，用于根据所述测试指令信息调整检测组件的工作状态，并在对应的工作状态下获取测试结果；弹簧组件，用于支承承物组件并提供弹力；所述中控单元还用于根据所述测试结果判定所述待测电子元件是否合格。本发明利用光的反射的特性，将光点阵列检测盘作为检测装置，根据光线是否发生反射以及光线的反射时间，对电子元件的形状和重量进行检测，实现了电子元件规格的精确测试，提高了电子元件的规格测试的结果的准确性。

技术领域

本发明涉及电子元件测试领域，尤其涉及一种用于电子元件的测试装置及测试方法和系统。

背景技术

随着现代工业水平的提高和信息技术的飞速发展，各种电子产品在人们的日常生活中得到广泛使用，且大部分电子产品的规格也日渐轻简化，甚至一些应用于航空航天领域的精密电子仪器为了缩小自身体积逐渐高度集成化。而作为电子产品中最基础的构成单元，电子元件的质量优劣直接影响电子产品的性能好坏。因此，为了保证电子元件的正常运作，制造单位在其生产完成后往往会进行一系列的测试，最基本的测量包括规格测量、电性能测量等。

传统的电子元件规格测量方法是采用人工的方式进行测量，但此方法的测量准确度难以得到保证，且测量效率较低，严重制约生产规模。在现有技术中，出现了一些用于对电子元件进行测量的装置，例如，中国专利ZL201210040777.1公开了一种电子元件测试治具，该电子元件测试治具设置有光线收发部作为光学定位装置，根据光线收发部光线的反射情况判断被测电子元件是否处于正确的检测位置，从而使被测电子元件正确放置，提高测量结果的准确性，但此技术方案仅解决了被测电子元件在测试装置内的定位问题，并不能确保电子元件规格测试的准确性。

发明内容

为此，本发明提供一种用于电子元件的测试装置及测试方法和系统，可以解决现有技术无法保证电子元件规格测试的测试结果的准确性的问题。

为实现上述目的，本发明一方面提供一种电子元件测试装置，包括：

承物组件，用于承接待测电子元件；

中控单元，用于根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息；

检测组件，与所述中控单元连接，用于根据所述测试指令信息调整检测组件的工作状态，并在对应的工作状态下获取测试结果；

弹簧组件，包括若干组支承弹簧，各所述支承弹簧的一端连接于的所述承物组件的下方且各连接点在承物组件上均匀分布，另一端连接于检测组件的上方且各连接点在所述检测组件上均匀分布，所述弹簧组件用于支承承物组件并提供弹力；

所述中控单元还用于根据所述测试结果判定所述待测电子元件是否合格。

进一步地，所述检测组件包括光点阵列检测盘和检测盘固定支架，所述光点阵列检测盘的外沿由检测盘固定支架固定，用于接收测试指令信息和对待测电子元件的规格进行测试并获得测试结果，所述光点阵列检测盘包括由若干光点组成的光点阵列，所述光点阵列检测盘用于接收测试指令信息、发射光束、接收反射光束、检测光束的实时光反射周期和获得测试结果。

进一步地，所述中控单元根据待测电子元件的种类设置标准规格和构建测试指令信息和发出测试指令信息时，所述标准规格包括标准形状和标准重量，所述测试指令信息包括重量测试指令或形状测试指令。

进一步地，当中控单元根据待测电子元件的种类设置标准形状、根据标准形状构建形状测试指令和发出形状测试指令时，光点阵列检测盘根据标准形状调整光点的亮灭状态，使对应标准形状内部的光点处于熄灭状态，对应标准形状外部的光点处于明亮状态，光点阵列检测盘根据接收反射光束的有无情况获得测试结果，中控单元根据测试结果判定待测电子元件的形状合格情况。