[发明专利]结晶度测量装置、结晶度测量方法以及信息存储介质在审
| 申请号： | 202210616976.6 | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115508394A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 虎谷秀穗 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/2055 | 分类号： | G01N23/2055 |
| 代理公司： | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人： | 刘昕;孟祥海 |
| 地址： | 日本国东京都昭*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种结晶度测量装置，包括：测量图案获取单元，获取被测量出的、包含对象物质和其他已知被混合物质的样品的X射线散射图案；已知图案获取单元，获取被混合物质的已知X射线散射图案；结晶图案获取单元，基于所述样品的X射线散射图案，至少部分地获得包含于对象物质的结晶部分的X射线衍射图案；结晶积分强度计算单元，计算获得的结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度；对象物质积分强度计算单元，基于样品的X射线散射图案和已知X射线散射图案，计算对象物质的X射线散射图案相关的的积分强度；结晶度计算单元，基于结晶部分的X射线衍射图案相关的积分强度和对象物质的X射线散射图案相关的积分强度而计算对象物质的结晶度。 | ||
| 搜索关键词： | 结晶度 测量 装置 测量方法 以及 信息 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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