[发明专利]一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210604840.3 | 申请日： | 2022-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN115132262A | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 任家波;罗建鑫;严业豪 | 申请（专利权）人： | 苏州伟创电气科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/44 |
| 代理公司： | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质，所述方法包括：在MCU上电时，以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测，得到RAM检测结果，所述第一数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的；基于所述RAM检测结果，确定所述MCU对应的上电结果。通过再MCU上电时，对RAM内存空间数据按照第一数量的字节为检测单位进行RAM检测，完成对RAM内存空间的快速RAM检测。由此，可以实现缩短检测时间，并且保持故障覆盖率不变的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 ram 检测 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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