[发明专利]一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质

说明书

本发明实施例涉及一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质，所述方法包括：在MCU上电时，以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测，得到RAM检测结果，所述第一数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的；基于所述RAM检测结果，确定所述MCU对应的上电结果。通过再MCU上电时，对RAM内存空间数据按照第一数量的字节为检测单位进行RAM检测，完成对RAM内存空间的快速RAM检测。由此，可以实现缩短检测时间，并且保持故障覆盖率不变的技术效果。

技术领域

本发明实施例涉及RAM检测技术领域，尤其涉及一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质。

背景技术

在嵌入式软件开发过程中，对系统的安全性要求越来越高，其中微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)作为嵌入式领域的重要部件，自身的故障率随着使用年限而增大。

RAM作为MCU中的一部分，RAM检测直接影响MCU的启动结果。传统的RAM检测是在MCU上电时，按照逐个bit位对RAM全部内存空间进行检测。造成检测的时间长，硬件开销多，准确率不高。普遍存在着故障率较高，测试效率不高等问题。另外，一些检测算法可以提供很好的故障覆盖率，但是诊断时间较长且形式较为复杂。

因此，如何解决检测时间长和故障覆盖率低是现在亟待解决的技术问题。

发明内容

鉴于此，为解决上述检测时间长和故障覆盖率低的技术问题，本发明实施例提供一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种快速RAM检测方法，包括：

在MCU上电时，以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测，得到RAM检测结果，所述第一数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的；

基于所述RAM检测结果，确定所述MCU对应的上电结果。

在一个可能的实施方式中，所述以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测，包括：

通过预先设定的五个检测步骤，对RAM的内存空间进行RAM检测；所述五个检测步骤，具体如下：

在第一检测步骤中，依据诊断相邻比特位的检测规则，以所述第一数量的字节为单位，对所述RAM的内存空间进行RAM检测；

在第二检测步骤中，依据诊断间隔1位比特位的检测规则，以所述第一数量的字节为单位，对所述RAM的内存空间进行RAM检测；

在第三检测步骤中，依据诊断间隔2位比特位的检测原则，以所述第一数量的字节为单位，对所述RAM的内存空间进行RAM检测；

在第四检测步骤中，依据诊断间隔3位比特位的检测规则，以所述第一数量的字节为单位，对所述RAM的内存空间进行RAM检测；

在第五检测步骤中，依据复位检测规则，以所述第一数量的字节为单位，对所述RAM的内存空间进行RAM检测。

在一个可能的实施方式中，所述方法还包括：

对所述RAM检测结果进行校验；

在所述RAM检测结果为成功时，每隔预设时间，以第二数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测，其中，所述第二数量小于所述第一数量，且，所述第二数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的；

在所述RAM检测结果为失败时，对所述MCU进行断电处理；

和，

在所述RAM检测结果为失败时，展示所述RAM检测结果。

在一个可能的实施方式中，所述以第二数量的字节对RAM的内存空间进行RAM检测，包括：