[发明专利]一种快速RAM检测方法、系统、检测设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210604840.3 申请日: 2022-05-31
公开(公告)号: CN115132262A 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 任家波;罗建鑫;严业豪 申请(专利权)人: 苏州伟创电气科技股份有限公司
主分类号: G11C29/10 分类号: G11C29/10;G11C29/44
代理公司: 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 代理人: 蒋学超
地址: 215000 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 ram 检测 方法 系统 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种快速RAM检测方法,其特征在于,包括:

在MCU上电时,以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测,得到RAM检测结果,所述第一数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的;

基于所述RAM检测结果,确定所述MCU对应的上电结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测,包括:

通过预先设定的五个检测步骤,对RAM的内存空间进行RAM检测;所述五个检测步骤,具体如下:

在第一检测步骤中,依据诊断相邻比特位的检测规则,以所述第一数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第二检测步骤中,依据诊断间隔1位比特位的检测规则,以所述第一数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第三检测步骤中,依据诊断间隔2位比特位的检测原则,以所述第一数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第四检测步骤中,依据诊断间隔3位比特位的检测规则,以所述第一数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第五检测步骤中,依据复位检测规则,以所述第一数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

对所述RAM检测结果进行校验;

在所述RAM检测结果为成功时,每隔预设时间,以第二数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测,其中,所述第二数量小于所述第一数量,且,所述第二数量为预先根据运行内存空间和字节的长度确定的;

在所述RAM检测结果为失败时,对所述MCU进行断电处理;

和,

在所述RAM检测结果为失败时,展示所述RAM检测结果。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述以第二数量的字节对RAM的内存空间进行RAM检测,包括:

通过预先设定的五个检测步骤,对RAM的内存空间进行RAM检测;所述五个检测步骤,具体如下:

在第一检测步骤中,依据诊断相邻比特位的检测规则,以所述第二数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第二检测步骤中,依据诊断间隔1位比特位的检测规则,以所述第二数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第三检测步骤中,依据诊断间隔2位比特位的检测规则,以所述第二数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第四检测步骤中,依据诊断间隔3位比特位的检测规则,以所述第二数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测;

在第五检测步骤中,依据复位检测规则,以所述第二数量的字节为单位,对所述RAM的内存空间进行RAM检测。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述MCU进行断电处理,包括:

控制所述MCU停止向硬件看门狗发送喂食信号,以使所述硬件看门狗断开所述MCU与外部电源的连接。

6.一种采用快速RAM检测方法的快速RAM检测系统,其特征在于,包括:

RAM检测模块和MCU;

所述RAM检测模块,用于在MCU上电时,以第一数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测,得到RAM检测结果;基于所述RAM检测结果,确定所述MCU对应的上电结果;

所述RAM检测模块,还用于在所述RAM检测结果为成功时,每隔预设时间,以第二数量的字节为单位对RAM的内存空间进行RAM检测。

7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:硬件看门狗和电源模块;

所述电源模块,用于为所述MCU供电;

所述硬件看门狗,用于在所述MCU停止向所述硬件看门狗发送喂食信号时,断开所述MCU与所述电源模块的连接。

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