[发明专利]一种芯片验证方法及装置、系统、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202210600599.7 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN116048887A | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 李泽辰;马擎堃;陈元 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种芯片验证方法及装置、系统、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化技术领域，能够在充分发挥硬件验证平台大规模、快速验证优势的同时，便于进行缺陷检测。所述方法基于硬件验证平台，包括：运行待验证芯片的硬件仿真程序；按照预设策略，向软件验证平台发送所述待验证芯片在程序运行中的行为信息和行为结果信息，以使所述软件验证平台根据所述行为信息和所述行为结果信息对所述待验证芯片进行验证复核。本发明适用于各种芯片验证中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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