[发明专利]芯片进入测试模式的电路及芯片进入测试模式的判定方法在审
| 申请号： | 202210599265.2 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN115015733A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 许欢;李翔 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 周初冬 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片进入测试模式的电路及芯片进入测试模式的判定方法，该电路包括：连接芯片的输入引脚与预设引脚的开关、信号调整单元及传输单元；其中，信号调整单元和传输单元分别与芯片的输入引脚相连；信号调整单元用于根据接收到的预设脉冲信号对输入引脚的信号进行调整；传输单元用于在接收到使能信号时，将输入引脚的信号传输至输出端，以使芯片进入测试模式，也即，本申请能够使得增加封装和打线后的裸片进入测试模式进行测试，以避免增加封装和打线后引入的寄生电容、电感和电阻导致芯片参数出现偏差，导致芯片无法正常使用的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 进入 测试 模式 电路 判定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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