[发明专利]芯片进入测试模式的电路及芯片进入测试模式的判定方法

权利要求书

1.一种芯片进入测试模式的电路，其特征在于，包括：连接所述芯片的输入引脚与预设引脚的开关、信号调整单元及传输单元；

其中，所述信号调整单元和所述传输单元分别与所述芯片的输入引脚相连；

所述信号调整单元用于根据接收到的预设脉冲信号对所述输入引脚的信号进行调整；

所述传输单元用于在接收到使能信号时，将所述输入引脚的信号传输至输出端，以使所述芯片进入测试模式。

2.根据权利要求1所述的芯片进入测试模式的电路，其特征在于，若所述预设引脚为所述芯片的电源引脚，则所述信号调整单元，包括：第一电阻以及第一开关管；

其中，所述第一电阻的一端作为所述信号调整单元的输入端，与所述芯片的输入引脚相连；

所述第一电阻的另一端与所述第一开关管的第二端相连，所述第一开关管的控制端接收所述预设脉冲信号，所述第一开关管的第一端接地。

3.根据权利要求2所述的芯片进入测试模式的电路，其特征在于，所述第一开关管为NMOS管。

4.根据权利要求1所述的芯片进入测试模式的电路，其特征在于，若所述预设引脚为所述芯片的接地引脚，则所述信号调整单元，包括：第二电阻、第一反相器及第二开关管；

其中，所述第二电阻的一端作为所述信号调整单元的输入端，与所述芯片的输入引脚相连；

所述第一反相器的输入端接收所述预设脉冲信号，所述第一反相器的输出端与所述第二开关管的控制端相连；

所述第二开关管的第二端与所述第二电阻的另一端相连，所述第二开关管的第一端连接输入电源。

5.根据权利要求4所述的芯片进入测试模式的电路，其特征在于，所述第二预设引脚为所述芯片的接地引脚，所述第二开关管的PMOS管。

6.根据权利要求1所述的芯片进入测试模式的电路，其特征在于，所述传输单元，包括：传输门，所述传输门的一端作为所述传输单元的输入端，与所述芯片的输入引脚相连；所述传输门的另一端作为所述传输单元的输出端，所述传输门的控制端接收所述使能信号。

7.一种芯片进入测试模式的判定方法，其特征在于，应用于如权利要求1-6任一项所述的芯片进入测试模式的电路，所述方法包括：

确定出需要与所述芯片的输入引脚连接的预设引脚；

判断所述芯片进入测试模式的电路中传输单元的输出是否满足，与所述预设引脚对应的预设判定条件；

若判断结果为是，则判定出所述芯片进入测试模式；

若判断结果为否，则判定出所述芯片进入测试模式。

8.根据权利要求7所述的芯片进入测试模式的判定方法，其特征在于，若所述预设引脚为所述芯片的电源引脚，则所述芯片进入测试模式的电路中传输单元的输出满足，与所述预设引脚对应的预设判定条件，包括：

若所述芯片进入测试模式的电路中信号调整单元接收到预设脉冲信号为单脉冲信号，则所述传输单元的输出为高电平；

若所述芯片进入测试模式的电路中信号调整单元接收到预设脉冲信号为多脉冲信号，则在每一个脉冲信号期间所述传输单元的输出均为高电平。

9.根据权利要求7所述的芯片进入测试模式的判定方法，其特征在于，若所述预设引脚为所述芯片的接地引脚，则所述芯片进入测试模式的电路中传输单元的输出满足，与所述预设引脚对应的预设判定条件，包括：

若所述芯片进入测试模式的电路中信号调整单元接收到预设脉冲信号为单脉冲信号，则所述传输单元的输出为低电平；

若所述芯片进入测试模式的电路中信号调整单元接收到预设脉冲信号为多脉冲信号，则在每一个脉冲信号期间所述传输单元的输出均为低电平。

10.根据权利要求7所述的芯片进入测试模式的判定方法，其特征在于，在确定出需要与所述芯片的输入引脚连接的预设引脚之后，还包括：

向所述芯片的输入引脚输入预设判定信号；

判断所述芯片进入测试模式的电路中传输单元的输出是否与所述预设判断信号的脉宽相同；

若判断结果为是，则判定出所述芯片进入测试模式；

若判断结果为否，则判定出所述芯片未进入测试模式。