[发明专利]一种分析纳米颗粒三维分布并获得其多尺度信息的方法在审

专利信息
申请号: 202210539236.7 申请日: 2022-05-18
公开(公告)号: CN114894824A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 高烨男;傅健 申请(专利权)人: 北京航空航天大学;北京航空航天大学江西研究院
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 江亚平;邓治平
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种分析纳米颗粒三维分布并获得其多尺度信息的方法。该方法包括:步骤1、制备陶瓷基纳米复合材料的样品并设计同步辐射纳米CT成像实验;步骤2、获取纳米CT投影序列并进行CT重建与三维可视化;步骤3、建立样品中任意空间感兴趣区域内纳米颗粒的三维高阶最近邻指数模型;步骤4、根据三维高阶最近邻指数模型的分析计算定性定量表征纳米颗粒的三维分布模式并获得纳米颗粒的多尺度信息。
搜索关键词: 一种 分析 纳米 颗粒 三维 分布 获得 尺度 信息 方法
【主权项】:
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