[发明专利]一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置

摘要

本发明公开了一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，包括：根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；为该验证项目确定对应的验证试验项目；基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。利用本发明的方法可以为多种国产电子元器件的通用质量特性验证项目提供指导，有针对性地开展验证工作，给出具体的验证方法，确保国产电子元器件在应用中的风险降至最低。