[发明专利]两级多路偏振调制的强光背景抑制测量装置及方法在审
申请号: | 202210483975.9 | 申请日: | 2022-05-06 |
公开(公告)号: | CN114935579A | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 杨敏;毛宏霞;修鹏;王金舵;徐文斌;王思维 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 王文雅 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种两级多路偏振调制的强光背景抑制测量装置及方法,涉及光学图像测量技术领域。装置包括:光学透镜、第一级偏振片、第二级偏振片组件、CCD面阵探测器、控制单元和数据采集处理单元;第一级偏振片,用于进行一级偏振处理;第二级偏振片组件包括:电机、偏振片轮和偏振片;偏振片轮上的偏振片,在电机的驱动下随偏振片轮的旋转而旋转,在旋转过程中,可将一级偏振处理后的出射光分别进行不同角度的二级偏振处理;CCD面阵探测器,用于采集不同角度的二级偏振处理后出射光对应的强度图像;数据采集处理单元,用于将CCD面阵探测器采集的多个强度图像进行重构,得到目标场景的高动态范围图像。本方案,能够降低操作复杂度。 | ||
搜索关键词: | 两级 偏振 调制 强光 背景 抑制 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所,未经北京环境特性研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210483975.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。