[发明专利]三维存储器件及其制造方法在审
申请号: | 202210473867.3 | 申请日: | 2022-04-29 |
公开(公告)号: | CN114883338A | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 孙昌志;夏志良;杜小龙;高庭庭;刘小欣;刘佳裔 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582;H01L27/1157 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 熊恒定 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开一种的三维存储器件及其制造方法,在制造方法中,通过贯穿堆叠层形成沟道孔,之后通过沟道孔去除部分牺牲层以形成凹槽,之后在凹槽内转化至少一部分牺牲层以形成第一子阻挡层,之后继续在第一子阻挡层和凹槽的侧壁上形成第二子阻挡层,之后在凹槽内填充电荷捕获层。在去除部分牺牲层形成凹槽后,相邻的凹槽被绝缘层隔开,使得填充在凹槽内的电荷捕获层在沟道孔的轴向上是间断分布的,从而避免电荷捕获层中的电子沿轴向扩散或者漂移,而且由于第一子阻挡层和第二子阻挡层在凹槽的底部处层叠,从而进一步阻挡电子沿沟道孔的径向进行扩散,有利于整体上提高三维存储器件的电荷保持能力。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的