[发明专利]一种基于自适应梯度投影的电阻率成像错位校正方法有效
| 申请号： | 202210464197.9 | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114782276B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 李廷军;田雨桐;杨海宁;赵泽轩;杨旭 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电阻率阵列成像测井的自适应梯度投影校正方法，基于错位导致的水平项二阶梯度提升，本发明采用梯度域自适应方法对微位移进行校正，利用最小二乘项保证图像的损耗和失真最小；同时本发明采用简单的线性变换实现错位校正，使得变换后的图像错位被有效抑制的同时仍能保证图像信息损失最低，保证了错位校正与图像信息损失之间的平衡。本发明的方法快速有效，不仅提升了电阻率阵列成像的分辨率和成像质量，同时也以尽可能低的计算复杂度，高效解决了电阻率阵列成像的错位问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 自适应 梯度 投影 电阻率 成像 错位 校正 方法 | ||
【主权项】：
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