[发明专利]基于自卷积的故障电弧特征提取方法及装置、电子设备在审

专利信息
申请号: 202210401992.3 申请日: 2022-04-15
公开(公告)号: CN114818798A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 张培勇;汤俊飞 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 杭州君锐知产专利代理事务所(普通合伙) 33443 代理人: 方琦
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于自卷积的故障电弧特征提取方法及装置、电子设备。包括:剪切故障电弧波形,获得第一数据,其中含有故障电弧信息;处理第一数据得到第二数据并作为该类型故障电弧检测的专用卷积核,其中处理过程包括调整均值;将传感器采集到得到并进行预处理的电网信号作为第三数据;使用第二数据与第三数据进行卷积计算得到第四数据,其中,卷积计算使得故障电弧信号与正常电网信号在幅值上分离,达成提取故障电弧特征的功能;对第四数据进行特征识别处理,得到第五数据,其中第五数据中含有用电设备是否发生故障电弧的信息。通过本发明解决了传统故障电弧特征提取方法如小波变换卷积核通用导致的特征提取效果不好和参数过多问题。
搜索关键词: 基于 卷积 故障 电弧 特征 提取 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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