[发明专利]一种激光测距方法及激光测距芯片在审

专利信息
申请号: 202210400118.8 申请日: 2022-04-15
公开(公告)号: CN114814881A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 唐佳捷;张超 申请(专利权)人: 深圳市灵明光子科技有限公司
主分类号: G01S17/894 分类号: G01S17/894;G01S17/14
代理公司: 广东良马律师事务所 44395 代理人: 邓天祥
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道福*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种激光测距方法及激光测距芯片,方法包括:进行第一次曝光,检测到目标物体反射回的光子信号,通过TDC转换,构建第一直方图,获得目标物体的初测距离,第一直方图的每个时间箱宽度是L1;判断初测距离是否小于预设值;若不小于,则将初测距离作为目标物体的实际距离;若小于,则进行第二次曝光,检测到目标物体反射回的光子信号,通过TDC转换,构建第二直方图,获得目标物体的细测距离,将细测距离作为目标物体的实际距离,第二直方图的每个时间箱宽度是L2,L2小于L1。本发明实施例在用于存储直方图的存储模块资源有限的前提下,可同时兼顾激光探测远距离和高精度,而且成本较低,测距效果好。
搜索关键词: 一种 激光 测距 方法 芯片
【主权项】:
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