[发明专利]瑕疵检测模型训练方法、装置、设备和存储介质在审
申请号: | 202210383826.5 | 申请日: | 2022-04-12 |
公开(公告)号: | CN114862764A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 陈炳辉 | 申请(专利权)人: | 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62;G06V10/40;G06V10/74;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/778 |
代理公司: | 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 | 代理人: | 孙明子 |
地址: | 310023 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请提供一种瑕疵检测模型训练方法、装置、设备和存储介质,该方法包括:获取有瑕疵标注信息的第一训练样本图像和无瑕疵标注信息的第二训练样本图像,将第一训练样本图像和第二训练样本图像分别输入作为学生模型的瑕疵检测模型中得到第一瑕疵检测结果和第二瑕疵检测结果,将第二训练样本图像输入到教师模型中得到指示了瑕疵位置和目标瑕疵类别的预测分数的第三瑕疵检测结果。若预测分数大于目标瑕疵类别的可信阈值,则确定第三瑕疵检测结果可信,将第三瑕疵检测结果作为第二训练样本图像的瑕疵标注信息。根据第一、第二训练样本图像各自的瑕疵检测结果和瑕疵标注信息训练瑕疵检测模型。以半监督训练方式得到性能良好的瑕疵检测模型。 | ||
搜索关键词: | 瑕疵 检测 模型 训练 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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