[发明专利]一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202210373397.3 | 申请日： | 2022-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN114778081A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 张太永;万小芳;代政;查颖云;邓坚 | 申请（专利权）人： | 深圳锐视智芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 钟连发 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 传感器 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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