[发明专利]一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种传感器测试方法，其特征在于，所述传感器测试方法包括：

控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段；

获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数。

2.根据权利要求1所述的传感器测试方法，其特征在于，所述基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数的步骤，包括：

将所述平均灰度值以及所述目标灰度值输入至预设图像滞留计算公式，计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数；所述图像计算公式表示为：I_lag＝(u_lag-u_dark)/k；

其中，I_lag表示所述图像滞留参数，u_lag表示所述目标灰度值，u_dark表示所述平均灰度值，k表示所述APS图像传感器的系统增益常数。

3.根据权利要求1所述的传感器测试方法，其特征在于，所述基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数的步骤之前，还包括：

判断所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件；

若是，则执行所述基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数的步骤。

4.根据权利要求3所述的传感器测试方法，其特征在于，所述判断所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件的步骤，包括：

判断所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段所采集的图像中，是否存在单帧图像的灰度值满足预设关系式：u_y＝200k；

其中，u_y表示所述单帧图像的灰度值，k表示所述APS图像传感器的系统增益常数。

5.根据权利要求3所述的传感器测试方法，其特征在于，所述判断所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段所采集的图像的灰度值是否满足预设条件的步骤之后，还包括：

若否，则对所述APS图像传感器的曝光时长和/或所述光照环境的光源工作参数进行重置，然后返回执行所述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤。

6.根据权利要求1所述的传感器测试方法，其特征在于，所述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤，包括：

根据所述APS图像传感器的图像采集场景参数，设定所述第一图像采集阶段中N个图像采集时刻组成的等差时间数列的初始值以及公差；其中，所述图像采集场景参数包括以下至少之一：所述光照环境的光源工作参数、所述APS图像传感器与光源的相对距离、所述APS图像传感器的最大曝光时长；

按照所设定的所述等差时间数列，控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的传感器测试方法，其特征在于，所述控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像的步骤之前，还包括：

控制所述APS图像传感器的测试环境的环境温度保持为恒定温度。