[发明专利]一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本申请提供了一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；获取N帧图像的平均灰度值，以及获取图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；基于平均灰度值以及目标灰度值计算质子辐照后的APS图像传感器的图像滞留参数。通过本申请方案的实施，采用多帧图像求平均值的方法可以排除单次测量造成的偶然误差，测试方法简单，图像滞留检测的准确度高，可为APS图像传感器的辐射损伤评估提供有效支持。

技术领域

本申请涉及图像传感器技术领域，尤其涉及一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

传统类型的图像传感器包括互补金属氧化物半导体(CMOS，Complementary MetalOxide Semiconductor)图像传感器，其有体积小、质量轻、功耗低、集成度高等优点，被广泛应用于星敏感器、太阳敏感器、遥感成像等空间领域，在星识别、恒星追踪、姿态确定、空间对接、特征跟踪、着陆控制的降落成像及目标跟踪等空间任务中发挥了重要的作用。近年来，基于CMOS Image Sensor(CIS)工艺的图像传感器发展日益迅猛，在汽车电子、智能制造、工业监控、军事侦察等领域的应用越来越广泛。然而，当图像传感器应用在上述领域时将会受到空间质子辐照损伤，导致图像传感器性能退化甚至功能失效。因此开展图像传感器质子辐照损伤研究具有重要的意义。

图像滞留是图像传感器所采集图像质量的重要指标之一，它表征这一帧图像是否留有上一帧图像痕迹的一个参数，是图像传感器质子辐照损伤程度评估的重要参数。

在质子辐照后的图像传感器连续采集多帧图像时，前几帧图像可能出现灰度值较大的问题，导致无法对图像传感器的图像滞留进行准确测量，严重影响了图像传感器辐照损伤评估的准确性。

发明内容

本申请实施例提供了一种传感器测试方法、装置、设备及可读存储介质，至少能够解决相关技术中针对质子辐照后的图像传感器进行图像滞留测量的准确性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供了一种传感器测试方法，包括：

控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段；

获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数。

本申请实施例第二方面提供了一种传感器测试装置，包括：

采集模块，用于控制质子辐照后的APS图像传感器在第一图像采集阶段的无光照环境下连续采集N帧图像，在第二图像采集阶段的光照环境下采集单帧图像，在第三图像采集阶段的无光照环境下采集M帧图像；其中，N为取值大于1的正整数，M为取值大于或等于1的正整数，单个图像采集周期包括时序连续的所述第一图像采集阶段、所述第二图像采集阶段以及所述第三图像采集阶段；

获取模块，用于获取所述N帧图像的平均灰度值，以及获取所述图像采集周期最后一帧图像的目标灰度值；

计算模块，用于基于所述平均灰度值以及所述目标灰度值计算质子辐照后的所述APS图像传感器的图像滞留参数。

本申请实施例第三方面提供了一种终端设备，包括：存储器及处理器，其中，处理器用于执行存储在存储器上的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请实施例第一方面提供的传感器测试方法中的各步骤。